ZX2
Stabilny, łatwy i przystępny laserowy czujnik pomiarowy
Duża precyzja i stabilność pomiaru, za rozsądną cenę. Nowy czujnik laserowy ZX2 zapewnia najwyższe parametry w swojej klasie pod względem precyzji i szybkości we wszystkich ruchomych układach liniowych. Dzięki wykorzystaniu zaawansowanego przetwornika obrazu HSDR-CMOS osiągnięto wysoką stabilność pomiaru, nawet w przypadku najtrudniejszych powierzchni.
- Konfiguracja jednym kliknięciem
- Precyzja: 1,5–5 µm
- Niezależnie od typu powierzchni
- Duża prędkość: od 30 µs
Modele i specyfikacja
| Produkt | Geometrical resolution | Measuring range length | Relative linearity deflection | Output type | Sensing distance | Sensing distance (min.) | Sensing method | Spot size | Height of sensor | Width of sensor | Overall length | Opis | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
0.005 mm | 65-135 mm | 0.1 % | 100 mm | 65 mm | Diffuse reflective | 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.005 mm | 65-135 mm | 0.05 % | 100 mm | 65 mm | Diffuse reflective | 2.7 mm x 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.0015 mm | 40-60 mm | 0.1 % | 50 mm | 40 mm | Diffuse reflective | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.0015 mm | 40-60 mm | 0.05 % | 50 mm | 40 mm | Diffuse reflective | 2.6 mm x 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
|
0.0015 mm | 43-53 mm | 0.3 % | 48 mm | 43 mm | Background suppression | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor head, 48 +/- 5mm, spot focus (requires amplifier), glass-mirror-wafer applications |
|
|
|
|
NPN | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, NPN output, 2 m cable |
|
|||||||||
|
|
PNP | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, PNP output |
|
Jak możemy Ci pomóc?
W razie pytań lub chęci przesłania prośby o wycenę skontaktuj się z nami lub wyślij zlecenie.
Proszę o kontakt ZX2
Dziękujemy za wysłanie zapytania. Otrzymasz od nas odpowiedź tak szybko, jak to tylko będzie możliwe.
Problem techniczny. Akcja nie została wykonana. Przepraszamy - spróbuj ponownie.
DownloadOferta dla ZX2
Poniżej możecie Państwo wysłać zapytanie cenowe dotyczące naszych produktów. Prosimy wypełnić wszystkie pola oznaczone *. Twoje dane osobowe będą oczywiście traktowane jako poufne.
Dziękujemy za zlecenie wyceny. Dostarczymy Ci niezbędnych informacji tak szybko, jak to tylko będzie możliwe.
Problem techniczny. Akcja nie została wykonana. Przepraszamy - spróbuj ponownie.
DownloadCechy
Przetwornik obrazu HSDR CMOS
Model ZX2 wykorzystuje nowoczesny, szybki i dynamiczno-zakresowy (HSDR) przetwornik obrazu CMOS. Zapewnia on stabilność pomiaru na powierzchniach wysoce absorbujących oraz wysoce odbijających, bez utraty precyzji. Model ZX2 monitoruje w sposób ciągły poziom odebranego światła i reguluje diodę lasera w celu zapewnienia odpowiedniej kompensacji ew. strat, wykonując całą operację w ciągu zaledwie 60μs.
Łatwa konfiguracja
Łatwa konfiguracja ZX2 - Model ZX2 eliminuje potrzebę skomplikowanej konfiguracji złożonej listy szczegółowych parametrów. Inteligentny przycisk służy do konfigurowania czujnika jedynie poprzez zdefiniowanie rodzaju mierzonej powierzchni:
- Jeden rodzaj powierzchni
- Różne rodzaje powierzchni
- Powierzchnie wysoce odbijające
Aplikacje
Systemy wykrywania podwójnych warstw
Wysoka precyzja pomiarów i możliwość obsługi różnych rodzajów powierzchni sprawia, że urządzenie ZX2 doskonale nadaje się do kontroli występowania podwójnych warstw.
Systemy pomiaru położenia względem wzorca
Możliwość przeprowadzania precyzyjnych pomiarów liniowych przy dużej prędkości sprawia, że urządzenie ZX2 można wykorzystywać w szybkich systemach wykorzystujących odniesienie do położenia.
Systemy pomiaru grubości
Urządzenie ZX2 umożliwia proste mierzenie grubości dzięki wykorzystaniu jednostki obliczeniowej. Precyzyjne pomiary można uzyskać nawet na najbardziej odbijających powierzchniach.
Pomiar skrzywienia
Kilka urządzeń ZX2 może wykrywać zakrzywienia lub ugięcie podzespołów. Nawet jeśli temperatura lub powierzchnia pomiarowa jest zróżnicowana, nadal można przeprowadzić stabilny pomiar.
Materiały
