Zaloguj się

Problem techniczny. Akcja nie została wykonana. Przepraszamy - spróbuj ponownie.

Download

Zarejestruj się

Problem techniczny. Akcja nie została wykonana. Przepraszamy - spróbuj ponownie.

Download

Dziękujemy za zainteresowanie

Wiadomość e-mail umożliwiająca dokończenie rejestracji konta została wysłana do

Powrót do strony internetowej

uzyskaj bezpośredni dostęp

Wypełnij poniższe pola i uzyskaj bezpośredni dostęp do zawartości tej strony

Text error notification

Text error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Problem techniczny. Akcja nie została wykonana. Przepraszamy - spróbuj ponownie.

Download

Dziękujemy za zainteresowanie

Masz teraz dostęp do Śledzenie FOUP w procesie produkcji półprzewodników

Wiadomość e-mail z potwierdzeniem została wysłana do

Przejdź do strony

Teraz lub uzyskaj bezpośredni dostęp, aby pobrać ten dokument

Śledzenie FOUP w produkcji półprzewodników jest ważne dla kontroli zanieczyszczeń, optymalizacji procesów, poprawy wydajności, kontroli jakości i zgodności. Zapewnia ochronę wafli, optymalizuje przepływ pracy, zwiększa uzysk i pozwala utrzymywać jakość.

Zastosowanie: identyfikowalność FOUP

Skuteczne śledzenie FOUP w procesie produkcji półprzewodników może być trudne z powodu złożoności zarządzania licznymi FOUP, obsługi dużych ilości danych, integracji z istniejącymi systemami, zapewnienia dokładności automatyzacji, radzenia sobie z czynnikami środowiskowymi oraz przestrzegania standardów branżowych.

Nasze rozwiązanie: technologia RFID zapewniająca pełną identyfikowalność procesów

Technologia RFID firmy OMRON oferuje specjalistyczne funkcje dla zastosowań w branży półprzewodników, w tym odporność chemiczną, kompatybilność ze standardowymi transponderami szklanymi od Texas Instruments (odczyt i zapis) oraz obsługę protokołu SECS I/II.

To zaawansowane rozwiązanie obsługuje pięć standardów SEMI oraz SECS/GEM, zapewniając spójną obsługę FOUP i pojemników w fabrykach półprzewodników. Technologia, która jest dostosowana do wymogów SEMI, poprawia ochronę wafli, optymalizuje przepływ pracy oraz zwiększa wydajność i jakość.

Technologie prorozwojowe

V640 SEMI

Zastosowania półprzewodników wymagają specjalnych cech produktu pod względem odporności chemicznej i protokołu dla systemów identyfikacji. Model V640 firmy OMRON może zapewnić zarówno komunikację ze standardowymi transponderami szklanymi firmy Texas Instruments, jak i z protokołem SECS I/II.

Powiązane produkty

Czy chcesz dowiedzieć się więcej?

Skontaktuj się z naszymi ekspertami

+48 22 458 6666
Skontaktuj się z nami

Proszę o kontakt Identyfikowalność wafli FOUP

digital semiconductors applications wafer foup traceability fcard sol

Prosimy wypełnić wszystkie pola oznaczone *. Twoje dane osobowe będą oczywiście traktowane jako poufne.

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Country error notification

Text area error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Dziękujemy za wysłanie zapytania. Otrzymasz od nas odpowiedź tak szybko, jak to tylko będzie możliwe.

Problem techniczny. Akcja nie została wykonana. Przepraszamy - spróbuj ponownie.

Download
+48 22 458 6666
+48 22 458 6666